恩智超級電容全參數(shù)測試儀N8100系列簡介

同系列型號：N8100A N8101A

N8100A多通道充放電測試儀，提供超級電容全參數(shù)測試多種測試方法，用戶可根據(jù)需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應用，用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結果可方便存儲和導出。導出格式可支持數(shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。適用于超級電容器研發(fā)、生產與品質檢測。

產品特點

■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR、漏電流，自放電等全參數(shù)測試

■  電流范圍：0-1A/10A，電壓范圍：0-6V

■  3U機框可容納30通道，超高空間利用率

■  采樣&通訊間隔可設，最小可低于10ms，測量結果更準確

■  每通道對應狀態(tài)指示燈，分選更方便

■  強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能

■  百兆以太網通訊

功能與優(yōu)勢

容量測量

N8100可測量超級電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。 測試方法為：對被測超級電容以恒定電流進行充（放）電， 在充（放）電過程中記錄時間和電壓參數(shù)，通過計算充（放） 電過程中電壓對時間的斜率計算容量。用戶可根據(jù)IEC等各種測量標準自行選擇電壓、時間參數(shù)進行計算。

直流內阻(DCIR)測試

N8100可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電 過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通 過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境 下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽 命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

壽命測試

N8100可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

四線制測量功能

超級電容測試過程中需要輸出較大電流，測試線將會引入較大電壓降（線損），影響測量精度。N8100全系列型號均采用四線制接線方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測量精度。

測試夾(治)具

考慮到不同規(guī)模的測試應用場景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法。

測試軟件

(1) N8100測試軟件采用平臺化設計，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。

(2) 類Office界面風格，各通道獨立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試功能同時，兼具美觀易用優(yōu)點。

(3) 設計有功率限制電路，反應時間極短，可有效保護負載不會因為過功率而損壞。

(4) 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。

恩智超級電容全參數(shù)測試儀N8100系列應用領域