TH2836 高頻LCR數(shù)字電橋

簡介

TH2836是采用當前的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、4Hz-8.5MHz的頻率范圍。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

     TH2836支持2V交流測試信號和10V直流偏置的高功率測試條件、增強的多參數(shù)列表掃描/多參數(shù)圖形分析能力將有利于用戶擴展元件全面評價的能力。

     TH2836是電子元器件設計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。

性能特點

• 高精度：采用自動平衡電橋技術，四端對測試配置

• 高速度：最快達5.6ms的測試速度

• 高分辨：7英寸，800×480分辨率

• 10點多參數(shù)列表掃描功能

• 數(shù)學運算功能

• 變?nèi)荻O管自動極性功能

• 一鍵截屏功能

• 一鍵記錄功能

• 10檔分選功能，分選結果聲光報警

• 超大的存儲空間：

內(nèi)置：40組設定文件

擴展：可通過USB存儲器存儲500組設定文件、圖像文件、

數(shù)據(jù)記錄文件

• 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHTE4980A、 E4980AL、HP4284A

應用領域

• 無源元件：

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

• 半導體元件：

LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

• 其它元件：

印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估

• 介質(zhì)材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

• 磁性材料：

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

• 半導體材料：

半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

TH2836 高頻LCR數(shù)字電橋包括以下幾種類型：