TH2851-130XS 精密阻抗分析儀

簡(jiǎn)介

   TH2851-130XS精密阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前*自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。

   TH2851-130XS精密阻抗分析儀改變了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

 TH2851-130XS精密阻抗分析儀也超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

   快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

應(yīng)用

■ 無(wú)源元件：

   電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

■ 半導(dǎo)體元件：

    LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

■ 其它元件：

   印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

■ 介質(zhì)材料：

   塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

■ 磁性材料：

   鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

■ 半導(dǎo)體材料：

   半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

■ 液晶單元：

   介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

TH2851-130XS 精密阻抗分析儀產(chǎn)品特性：

A.  高精度

     寬帶自動(dòng)調(diào)零型自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、25mΩ-50MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的10%測(cè)量精度，其中最高精度達(dá)0.045%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

B.  高穩(wěn)定性和高一致性

      下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C.  高速度

D. 10.1寸大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺

      10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

      大屏幕帶來(lái)更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

E.  增強(qiáng)的列表掃描功能

      可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

F.  強(qiáng)大的分析圖形界面

    最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G.  分段掃描功能

       分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

    如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過(guò)分段掃描功能可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無(wú)需掃描不相關(guān)頻率

H.  強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值）

2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示10個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系X軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系Y軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)：

I.  強(qiáng)大的圖形分析功能

1）    曲線分選功能

          可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線篩選如壓電元件等諧振頻率。

2）    等效電路分析測(cè)試

     現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效 這些器件。

         可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

     等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

3）    晶體振蕩器分析（壓電器件分析）

          對(duì)晶體振蕩器進(jìn)行測(cè)量以及性能分析，測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

      同時(shí)，對(duì)于其他壓電器件如壓電陶瓷濾波器、壓電陶瓷陷波器、壓電陶瓷鑒頻器、壓電陶瓷變壓器、大功率超聲波發(fā)生器、換能器（振子）、聲表面波器件、電聲器件等都可以測(cè)試如靜態(tài)電容、損耗、諧振頻率、反諧振頻率、機(jī)械耦合系數(shù)等參數(shù)。

4）    曲線軌跡對(duì)比

曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：

a)    針對(duì)多種不同被測(cè)件

       對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

       設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

b)    針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

       對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

       設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

J.  介電常數(shù)分析（選件）

      TH2851系列精密阻抗分析儀支持介質(zhì)材料介電常數(shù)、介質(zhì)損耗分析，需選購(gòu)測(cè)試夾具及分析軟件。